全学共通機器 X線小角散乱測定装置 の説明会のご案内
2008年7月23日
平成18年度全学共通経費(全学協力経費・設備関係)により、導入が認められました「極微細構造統合解析システム―極微細周期構造解析システム」(X線小角散乱測定装置:リガク製NANO-Viewer)に関しまして、設置に伴うトラブルのため、公開が遅れていましたが、ようやく皆様に利用して頂ける状態になりました。
つきましては、下記の通りX線小角散乱装置に関する基礎的な講習会を開催しますので、ご参加くださいますようご案内いたします。
なお、本講習会への参加者名簿を基に利用者会議を立ち上げますので、本装置に関してご興味をお持ちの研究室におかれましては是非ご出席くださいますようご案内をいたします。
また、本説明会にはどなたでもご出席いただけますが、装置の使用にあたっては学内のエックス線装置取扱者の資格が必要ですので付記します。
記
日時: | 平成20年8月1日(金曜日) 13時~16時 |
場所: | 桂キャンパスA2棟3階306 化学系大講義室 (14時30分頃よりA3棟1階151 全学共通機器極微細構造解析システム室に移動) |
内容: |
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本件問い合わせ先
仕様策定委員会代表
工学研究科物質エネルギー化学専攻(桂キャンパス)
教授 井上正志(内線:15-2478)