全学共通機器 X線小角散乱測定装置 の説明会のご案内

全学共通機器 X線小角散乱測定装置 の説明会のご案内

2008年7月23日

 平成18年度全学共通経費(全学協力経費・設備関係)により、導入が認められました「極微細構造統合解析システム―極微細周期構造解析システム」(X線小角散乱測定装置:リガク製NANO-Viewer)に関しまして、設置に伴うトラブルのため、公開が遅れていましたが、ようやく皆様に利用して頂ける状態になりました。

 つきましては、下記の通りX線小角散乱装置に関する基礎的な講習会を開催しますので、ご参加くださいますようご案内いたします。

 なお、本講習会への参加者名簿を基に利用者会議を立ち上げますので、本装置に関してご興味をお持ちの研究室におかれましては是非ご出席くださいますようご案内をいたします。

 また、本説明会にはどなたでもご出席いただけますが、装置の使用にあたっては学内のエックス線装置取扱者の資格が必要ですので付記します。

日時: 平成20年8月1日(金曜日) 13時~16時
場所: 桂キャンパスA2棟3階306 化学系大講義室
(14時30分頃よりA3棟1階151 全学共通機器極微細構造解析システム室に移動)
内容:
  1. あいさつと導入の経緯の説明
  2. 講義(質疑応答を含む)
    • 小角散乱の原理
    • 基本的な光学系と各部の意味
    • 小角領域におけるピークプロファイルと散乱プロファイル
    • 小角散乱による周期構造の評価
    • 小角散乱による粒径・細孔径の評価
    • ソフトウエアNANO-Solverについて
    • ディテクター(IP, IICCD)についてアプリケーションの紹介
  3. 実機見学と光学系の説明
    • X線発生装置・スリット・サンプル回り・受光光学系・検出器
    • 質疑応答

本件問い合わせ先

仕様策定委員会代表
工学研究科物質エネルギー化学専攻(桂キャンパス) 
教授 井上正志(内線:15-2478)