京都大学産官学連携センター
NEDO光集積ラボラトリー
総括責任者 平尾 一之
「NEDO光集積ラボラトリー」では、将来の先端分野や融合分野の技術を支える人材を育成することを目的として、分析セミナーおよび計算科学に関するセミナーを開催してきました。平成21年から「NEDO光集積ラボラトリー公開セミナー」と改称し、光、ナノテク材料、環境・エネルギー、バイオ等の最近のトピックスを、「分析・測定」、「計算科学」や「ナノテク材料・加工技術」の切り口で取り上げ、従来通りシリーズで開催していくことにしました。
今回はその第8回目として、アルバック・ファイ株式会社のご協力をいただき、XPS､AES､TOF－SIMS等最近の精密分析機器の原理および分析・測定の応用事例についてどのようなことができるのか等々のお話を伺うことになりました。
ふるってご参加ください。
日時
平成21年11月17日（火曜日） 13時30分～16時15分
場所
JSTイノベーションプラザ京都 1階セミナー室
http://www.kyoto.jst-plaza.jp/access/index.html
参加対象者
企業大学等の技術者・研究開発者（専門分野は不問） 40名程度 先着順
申し込み方法
以下の内容を事務局杉渕（連絡先：sugi＊icc.kyoto-u.ac.jp （＊を@に変えてください））までご連絡願います。
- 氏名
- 所属先・役職
- 連絡先（電話番号、E-mailアドレス）
参加費
無料
プログラム
13時30分～13時35分
挨拶
下間 靖彦 京都大学産官学連携センター 准教授
13時35分～16時15分
講師 鈴木 峰晴 氏 アルバック・ファイ株式会社 市場開発部 部長
（1） 演題 「電子分光法（XPS､AES）の原理と応用例」
休憩 10分
（2） 演題 「飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF－SIMS）の原理と応用例」
概要： XPS、AESは微小部分析、自動化分析の面で進化し､XPS､TOF－SIMSは有機・生体系材料への応用に向けて、耐電補償、クラスター利用低損傷分析の面での技術革新が進んでいる。その原理、応用例に関して概説する。
問い合わせ先
NEDO光集積ラボラトリー事務局（水島）
Tel/Fax： 075-383-3093/3029、E-mail： mizushima＊icc.kyoto-u.ac.jp （＊を@に変えてください）