第７回 分析・評価技術公開セミナー

2008年6月9日
京都大学産官学連携センター
ＮＥＤＯ光集積ラボラトリー

１．セミナーの趣旨

　「ＮＥＤＯ光集積ラボラトリー」では、将来の先端分野や融合分野の技術を支える人材を育成することを目的として、「ナノテク材料」、「光技術」等に関連する分析・評価・実験測定技術に係るセミナーをシリーズで開催しております。
　今回は、ガラス材料などの物性評価技術を取上げました。ナノテク時代に相応した基本物性評価技術について、温度―粘度特性、光学特性等の物性値、強度試験、気泡のガス分析、Ｘ線回折等の分析・測定方法やそれにまつわる話題等についてお話いただきます。ふるってご参加下さい。

２．セミナーの概要

【日時】 2008年7月9日（水曜日） 13時30分～16時30分

【場所】 ローム記念館 3階セミナー室

【参加対象者】 企業大学等の技術者・研究開発者 （専門分野は不問）　４０名程度　先着順

【申込み方法】

以下の内容を事務局杉渕（連絡先：sugi＊icc.kyoto-u.ac.jp （「＊」を「@」に変えてください） ）までご連絡願います。
(1)御芳名、(2)御所属先・役職、(3)御連絡先 （電話番号、e-mailアドレス）

【参加費】 無料

【問合せ先】

ＮＥＤＯ光集積ラボラトリー事務局 （水島）

Tel/Fax　075-383-3093/3029

e-mail　mizushima＊icc.kyoto-u.ac.jp （「＊」を「@」に変えてください）

【プログラム】

13時30分～13時40分　挨拶

平尾　一之　　京都大学大学院工学研究科　教授 （光集積ラボラトリー総括責任者）

13時40分～16時20分　講演

小村　浩史　　日本板硝子テクノリサーチ株式会社　マネージャー

「ガラスの基本物性評価について」

ガラスの最も基本的な物性である、粘性特性、光学特性、機械的特性の分析・測定方法について、JIS、ISO等各種規格との関係も含めて紹介致します。

酒井　千尋　　日本板硝子テクノリサーチ株式会社　常務取締役

「インプレーンＸ線回折によるナノ表面分析とＸ線から中性子線による評価技術」

ラボスケールのＸ線回折技術はこの数年で飛躍的に向上しました。インプレーンＸ線回折は数nmレベルのナノ薄膜構造の解析に最適な評価技術です。Ｘ線反射率測定では表面の密度の解析ができます。また、３次元配向性評価（極点）や各種雰囲気での「その場｣加熱など、多くの表面からバルクの評価が複合的に可能となりました。さらに、弊社で経験した中性子線を用いた解析技術なども含めて、今後の新しいナノ表面の評価技術を紹介していきます。

16時20分～16時30分

質疑・応答